计算机断层扫描(CT)技术利用X射线的穿透特性，根据不同组织对X射线吸收程度的差异，导致探测端接收到的射线强度发生变化。探测器捕捉这些变化，并将其转化为电信号，随后通过模数转换器输入计算机。计算机运用Radon变换和反投影算法等复杂的数学处理方法，重建出样品某一层面的二维图像。如果对多个层面进行连续扫描，可以进一步生成三维图像，从而全方位、多层次地展示样品内部的精细结构。这项技术为医学治疗、器件检测、考古研究、工业检测和安全检查等多个领域提供了重要的分析依据。
原理图
在CT技术中，常见的探测器类型包括闪烁探测器和光电二极管探测器。
我公司提供多种高性能探测器，适用于CT技术中的各种应用。其中，XUV系列探测器，无需闪烁体，是专为X射线应用设计的探测器件，具有极高的量子效率和低噪声特性;PIN-RD系列探测器具有大有源面积和高响应速度，适用于高能辐射检测，这些探测器的耗尽层可以被完全耗尽，以实现最低的结电容和快速响应时间;A2C系列多通道X射线探测器由安装在PCB上的16个元件阵列组成，本系列探测器可以与多种闪烁体配合使用，将中高能辐射能量转换为可见光谱。下图展示了使用我公司多通道X射线探测器获取的高清晰度牙齿X射线成像表征图，能够在使用更低辐射剂量的同时，提供高质量的图像。
此外，我们还提供SIPM系列探测器，它具有高灵敏度和低噪声的特点，非常适合用于需要高动态范围和快速时间响应的CT应用。它们能够在保持低辐射剂量的同时，提供高质量的图像，从而为医疗诊断和工业检测提供更安全、更高效的解决方案。
这些高性能探测器的多样化选择，使我们能够满足不同客户在CT技术应用中的特定需求。我们的探测器具有高灵敏度、低噪声和快速响应时间，确保生成高质量的CT图像。如需进一步了解我们的产品和技术支持，请联系我们的销售和技术支持团队。
推荐型号：
